单晶硅压力变送器选型指南
日期：2024-10-22 20:25
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摘要：
单晶硅压力变送器选型和其他压力变送器选型要求一样，需要综合考虑测量模式、工作量程、介质温度、接触膜片材质、工作环境与引压过程连接形式、环境的恶劣性等具体因素，使变送器性能覆盖这些因素，单晶硅压力变送器选型才算完成。
◆测量模式
根据被测压力性质，选择表压、绝压、差压测量模式：
①表压：压力测量以大气压力为参考零点，是常用的测压方式。
②绝压：以优良零压力作为压力测量参考零点的测压方式。
③差压：对高、低压端的压力差进行测量的方式。
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单晶硅压力变送器选型和其他压力变送器选型要求一样，需要综合考虑测量模式、工作量程、介质温度、接触膜片材质、工作环境与引压过程连接形式、环境的恶劣性等具体因素，使变送器性能覆盖这些因素，单晶硅压力变送器选型才算完成。
◆测量模式
根据被测压力性质，选择表压、绝压、差压测量模式：
①表压：压力测量以大气压力为参考零点，是常用的测压方式。
②绝压：以优良零压力作为压力测量参考零点的测压方式。
③差压：对高、低压端的压力差进行测量的方式。
◆工作量程
在考虑单晶硅压力变送器正常工作压力进行量程选择时，一般情况下应是工作压力处于变送器满量程的60%-80%。
◆介质温度
介质温度是指测量膜片直接接触的介质温度。在单晶硅压力变送器选型时，应使介质温度不超过测量膜片所允许的极限温度。在极限温度的环境下，应选用带温度隔离远传装置的远传压力变送器或远传差压变送器。
◆接触膜片
接触膜片是指与被测介质直接接触的测量膜片。要考虑被测介质是否会与测量膜片起化学反应、是否会损坏测量膜片、是否会与测量膜片的密封圈起化学反应、溶蚀和被测介质的物理状态对测量膜片的影响。单晶硅压力变送器*基础的测量膜片材质为316L，还有等材质供使用者选择。
◆工作环境与引压过程连接形式
对于引压过程连接形式的选择，应考虑在具体环境中便于安装、维护、更换；应尽可能国内选用工业通用连接形式；要考虑被测机制的物理状态(如是否黏稠、是否洁净等)。综合考虑诸因素选择与之相适应的变送器和引压过程形式(如安装支架、毛细管、延伸法兰等级等)
◆环境的恶劣性
单晶硅压力变送器安装的环境是否存在粉尘、可燃性气体、湿气、蒸汽等，综合考虑诸因素选择与之相适应的变送器防爆等级等。
以上因素是单晶硅压力变送器选型时必须考虑的，不可或缺，任何一项的疏忽将导致您的压力变送器无法长期稳定可靠地工作，大家务必重视。
